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清华大学喻文健教授获第19届欧洲设计自动化与测试学术会议最佳论文奖
欧洲设计自动化与测试学术会议简介(Design, Automation and Test in Europe)
欧洲设计自动化与测试学术会议,是欧洲每年举行的电子设计自动化的主题会议。它通常在每年的四月,在法国和德国之间交替举行。它是由计算机协会的SIGDA主办,EDA联盟,欧洲设计和自动化协会(欧洲设计与自动化协会),欧洲的电子芯片和系统设计的主动性(ECSI),IEEE计算机学会(作),电子设计自动化的IEEE委员会(CEDA),和IEEE机器人与自动化学会(RAS)。技术合作sigbed赞助商包括ACM,IEEE固态电路协会(SSCS),国际信息处理联合会,和英国工程技术学会(IET)。这是一个贸易展和技术相结合的会议。
清华计算机系喻文健副教授为第一作者的论文《在基于悬浮随机行走方法的电容提取中利用宏模型》(Utilizing Macromodels in Floating Random Walk Based Capacitance Extraction)在德国召开的第19届欧洲设计自动化与测试学术会议(Design, Automation and Test in Europe,DATE 2016)上,获得大会“最佳论文奖”(Best Paper Award)。这是中国研究人员作为第一作者的论文首次获得该会议最佳论文奖,也是目前为止中国的研究成果在电子设计自动化领域三大顶级会议上的唯一获奖。
该论文基于刻画三维结构静电场的宏模型技术,提出将马尔可夫链随机行走与悬浮随机行走相结合的一种新型电容提取算法,解决了集成电路制造/设计公司既要对知识产权模块进行加密、又要准确提取互连电容参数的矛盾等问题。
DATE与国际设计自动化会议(DAC)、国际计算机辅助设计会议(ICCAD)一起被公认为电子设计自动化领域水平最高的三大国际会议,也是全球电子设计与测试领域著名企业展览与专家交流的高水平会议。此次大会共收到投稿829篇,录用常规论文(regular paper)199篇。这该研究成果得到国家自然科学基金优秀青年基金项目的资助。
喻文健简介
博士,清华大学计算机科学与技术系副教授。
科研成果
教育部自然科学二等奖: 超大规模集成电路物理级优化和验证问题基础研究 (2005);
全国百篇优秀博士论文提名 (2005).
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